Proprietäres Design bei Monolith Flash Datenträgern ist eine der größten Herausforderungen bei der Datenrettung.
Bei einem Monolith-Chip sind die einzelnen Komponenten, der Speicherchip, der Controller, die Halbleiter, die Kontakte und die Verbindungen, auf einem einzigen Substrat integriert. Der so entstandene Monolith ist in Kunststoff oder Epoxidharz vergossen.
Diese kompakte Bauform bedeutet Kosteneffizienz bei der Massenproduktion: Weniger Bauteile und einen einfacheren Herstellungsprozess. Doch die schnelle Entwicklung der Flash-Speichertechnik führt dazu, dass sich das interne Schaltungsdesign – das Pin-Layout ständig verändert, und zwar bei jedem Hersteller auf unterschiedliche Weise. In diesem Zusammenhang sprechen wir vom Proprietärem Design. Das bedeutet, dass die Bauweise nicht standardisiert und das Pin- Layout nicht freizugänglich ist. Es wird vom jeweiligen Hersteller eigen entwickelt und geschützt.
Die Datenrettung wird dadurch zu äußerst anspruchsvollem Prozess.
Um an das Pin-Layout zu gelangen, muss die Lackschicht auf der Rückseite entfernt werden. Doch ohne das Layout im Voraus zu kennen, ist es unmöglich zu wissen, welche Bereiche abgeschliffen werden müssen, um die darunter liegenden Schaltkreise freizulegen. Oft muss daher die gesamte Schaltkreisschicht freigelegt werden, um das Layout und das Design untersuchen zu können.
Eine der schwierigsten Aufgaben besteht darin, herauszufinden an welchen Punkten, so genannte Pins, des Monolith-Chips die Verbindung hergestellt werden muss.
Wir verfügen zwar über Monolith-Chip-Datenbanken mit Pinbelegungen, doch aufgrund der Vielzahl an Designs ist es unmöglich jedes zu kennen. Wir müssen an dieser Stelle Schritt für Schritt die Pin-Outs erforschen. Hier hilft meist nur ausprobieren. Nicht selten nimmt dieser Prozess viel Zeit in Anspruch, da das Layout oft erst erkannt und abgebildet werden muss.
Eine weitere komplexe Aufgabe liegt darin die Rohdaten aus den Speicherchips auszulesen und anschließend den Inhalt zu entschlüsseln. In diesem Zusammenhang sprechen wir oft von den Controller Algorithmen.
Handelt es sich um einen neuen, noch unbekannten Controller, ist möglicherweise dessen Funktionsweise anders. Das wiederum bedeutet, dass die Konfiguration und das Layout der Daten sowie die Art und Weise, wie auf diese zugegriffen wird, ebenso neu und unbekannt ist. Denn die Firmware verwendet Algorithmen, um die Daten fragmentiert auf die einzelnen Speicherblöcke abzulegen.
Bei der Datenrettung stehen unsere Ingenieure oft vor vielen Herausforderungen, denn die Wiederherstellung der Daten ist viel komplexer und erfordert manchmal ein unkonventionelles Vorgehen.
Wie viel Ehrgeiz in unserem Team steckt, zeigt sich am Beispiel des erst vor ein paar Jahren entwickelten einzigartigen X-Ray Verfahrens, das Röntgenstrahlung und Lasertechnik bei der Datenrettung anwendet.
Dabei werden die internen Leiterbahnen des defekten Microcontrollers zum NAND-Flash innerhalb der monolithischen Speicherkarte mit Hilfe von Laser durchtrennt. Anschließend wird mit Röntgen-Strahlen die korrekte Schnittstelle ermittelt. Dieses Verfahren kann Beispielweise bei einigen der Monolith-Speicherkarten angewendet werden, wenn Microrisse aufgrund physischer Beschädigungen entstanden sind.
Dieses Verfahren hat uns hinsichtlich der Datenrettung von Speicherkarten neue Wege eröffnet, und wir sehen auch für die Zukunft ein großes Potential darin.
Zurzeit nutzen wir die Röntgenverfahren öfters während der Analyse, es ist eine nicht invasive Methode eventuelle Beschädigungen an dem Speicherchip zu erkennen, aber auch um die Pinbelegung zu erkennen.
Denn durch stetige Forschung und kontinuierliche Entwicklung neuartiger Datenrettungsverfahren als auch durch die Kooperation mit renommierten Universitäten ist die KÜRT Gruppe ein Technologieführer bei der Datenwiederherstellung geworden.
Es ermöglicht uns der rasanten Entwicklung von Monolith-Speicherkarten Schritt zu halten und die Herausforderungen bei deren Datenrettung zu meistern.